Grzegorz Greczynski

Professor, Enhetschef

Enhetschef, Tunnfilmsvetenskap (TFTUNN)

Nyheter

XPS problem med kalibrering

Röntgenfotoelektronspektroskopi (XPS) är en teknik som används för att studera ytkemin hos material. Men i en artikel pekar LiU-forskare på ett stort problem med metoden.

Tunnfilmsforskare bidrar till rymduppdrag

Europeiska rymdorganisationen skjuter upp rymdfarkosten JUICE (Jupiter Icy Moons Explorer). Med sig har farkosten prober som tillverkats vid Linköpings universitet. De ska undersöka isen på tre månar med omloppsbana runt Jupiter.

Grzegorz Greczynski vid röntgenfotoelektronspektroskop i labb.

Kan 12 000 vetenskapliga artiklar per år ha fel?

För att identifiera den kemiska sammansättningen i olika material används ofta en teknik som kallas XPS. Det är en standardmetod inom materialvetenskapen. Men forskare vid LiU har kunnat visa att metoden ofta ger felaktiga resultat.

Publikationer

2026

Sanath Kumar Honnali, Grzegorz Greczynski, Olivier Donzel-Gargand, Sagar Jathar, Daniel Lundin, Ganpati Ramanath, Per Eklund (2026)

Tailoring phase formation and mechanical properties of low-temperature-grown Al-rich CrAlWN films by selective metal-ion bombardment during high-power impulse magnetron sputtering Materials & design, Vol. 268, Artikel 116454 (Artikel i tidskrift)

https://dx.doi.org/10.1016/j.matdes.2026.116454

C. W. Chandler, D. S. Devadasan, H. Oppong-Mensah, Grzegorz Greczynski, T. S. Nunney, M. A. Baker (2026)

Femtosecond laser ablation (fs-LA) and sputter XPS depth profiling of a tantalum nitride thin film - a comparative study Applied Surface Science Advances, Vol. 34, Artikel 101008 (Artikel i tidskrift)

https://dx.doi.org/10.1016/j.apsadv.2026.101008

Grzegorz Greczynski (2026)

X-ray-induced conductivity affects charging shifts in X-ray photoelectron spectroscopy analyses of thin-film insulators Applied Surface Science, Vol. 740, Artikel 167011 (Artikel i tidskrift)

https://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2026.167011

Vladyslav Rogoz, Bartosz Wicher, Daniel Primetzhofer, Ivan Petrov, Lars Hultman, Grzegorz Greczynski (2026)

Enhancing the reliability of XPS spectra interpretation by microstructure analysis and self-consistent peak modelling: The case of W1-xNx (0 = x = 0.65) Applied Surface Science Advances, Vol. 34, Artikel 100990 (Artikel i tidskrift)

https://dx.doi.org/10.1016/j.apsadv.2026.100990