Michal Poksinski, Hasan Dzuho, Jan-Ove Järrhed, Hans Arwin
(2000)
Total internal reflection ellipsometry
Eurosensors XIV: The 14th European Conference on Solid-State Transducers : Book of Abstracts, s. 239-242
På liu.se använder vi kakor (cookies) för att webbplatsen ska fungera på ett bra sätt för dig. Genom att surfa vidare godkänner du att vi använder kakor. Läs mer om cookies och vår hantering av personuppgifter på Om webbplatsen