Enheten för materialmikroskopi

Vår forskning fokuserar på utveckling av nya, avancerade tekniker för elektronmikroskopi.

Vi undersöker de kemiska och atomära egenskaperna hos bland annat:

  • nanolaminerade MAX faser
  • 2D material såsom grafen, MXene, BN
  • halvledare med hög bandbredd, till exempel SiC, AlN, GaN
  • nanopartiklar, nanostavar med mera

För mer information, vänligen se vår engelskspråkiga sida.

KontaktVisa/dölj innehåll

ForskningsmiljöVisa/dölj innehåll

Tillbaka till TunnfilmsfysikVisa/dölj innehåll